www.viniti.ru Всероссийский Институт Научной и Технической Информации
 

База данных PEIS-V больше не обновляется с 1 июня 2018г.

The PEIS-V database is no longer updated from June 1, 2018


Physics Electronic Information Service by VINITI

PEIS-V | Help

   Radiophysics. Physical electronics.
      Electron and ion emission. Spectroscopy.
         Electron emission.
            Electron spectroscopy.
               Auger spectroscopy.
Parallel and antiparallel angular momentum transfer of circularly polarized light to photoelectrons and Auger electrons at the Ni L3 absorption threshold
Fumihiko Matsui, Hiroshi Ota, Kenji Sugita, Matthias Muntwiler, Roland Stania, and Thomas Greber
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 97, No: 3 , published: 18 January 2018
2×2R45 reconstruction and electron doping at the SrO-terminated SrTiO3(001) surface
Shohei Ogawa, Koichi Kato, Naoki Nagatsuka, Shohei Ogura, and Katsuyuki Fukutani
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 96, No: 8 , published: 08 August 2017
Surface phase, morphology, and charge distribution transitions on vacuum and ambient annealed SrTiO3(100)
Omur E. Dagdeviren, Georg H. Simon, Ke Zou, Fred J. Walker, Charles Ahn, Eric I. Altman, and Udo D. Schwarz
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 93, No: 19 , published: 04 May 2016
Влияние микронеровностей поверхности на состав и электронные свойства пленок CDTE/MO(111)
Труды XXII Международной конференции «Взаимодействие ионов с поверхностью» (ВИП-2015), Москва, 20-24 авг. 2015
Эргашов Е.С., Ташмухамедова Д.А., Джурабекова Ф.Г., Умирзаков Б.Е.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 80, No: 2 , published: 01 February 2016
Segregation, precipitation, and αα phase separation in Fe-Cr alloys
A. Kuronen, S. Granroth, M. H. Heinonen, R. E. Perälä, T. Kilpi, P. Laukkanen, J. Lång, J. Dahl, M. P. J. Punkkinen, K. Kokko, M. Ropo, B. Johansson, and L. Vitos
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 92, No: 21 , published: 28 December 2015
Silicene multilayers on Ag(111) display a cubic diamondlike structure and a 3×3 reconstruction induced by surfactant Ag atoms
Yves Borensztein, Alberto Curcella, Sébastien Royer, and Geoffroy Prévot
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 92, No: 15 , published: 06 October 2015
Mesoscopic organization of cobalt thin films on clean and oxygen-saturated Fe(001) surfaces
M. Riva, A. Picone, D. Giannotti, A. Brambilla, G. Fratesi, G. Bussetti, L. Duò, F. Ciccacci, and M. Finazzi
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 92, No: 11 , published: 21 September 2015
Atomic and electronic structure of bismuth-bilayer-terminated Bi2Se3(0001) prepared by atomic hydrogen etching
Roozbeh Shokri, Holger L. Meyerheim, Sumalay Roy, Katayoon Mohseni, A. Ernst, M. M. Otrokov, E. V. Chulkov, and J. Kirschner
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 91, No: 20 , published: 21 May 2015
Влияние бомбардировки ионами Ar+ на состав и структуру поверхности нанопленок CosSi2Si(111)
Донаев С.Б., Ташатов А.К., Умирзаков Б.Е.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2015, No: 4 , published: 01 April 2015
Влияние ионной бомбардировки на профиль распределения примесных атомов по глубине в Si, применяемом в солнечных элементах и диодных структурах
Умирзаков Б.Е., Ниматов С.Ж., Болтаев Х.Х.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2014, No: 9 , published: 01 September 2014
Влияние различных видов отжига на термооксидирование структур VxOy/InP, сформированных осаждением геля оксида ванадия(V), фазовый состав и морфологию пленок
Миттова И.Я., Томина Е.В., Сладкопевцев Б.В., Донцов А.И.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2014, No: 9 , published: 01 September 2014
Оже-спектроскопия электронно-стимулированной адсорбции кислорода на поверхности поликристаллического алюминия
Ашхотов О.Г., Ашхотова И.Б., Крымшокалова Д.А.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 78, No: 8 , published: 01 August 2014
Электронная спектроскопия для послойного анализа углеводородных покрытий, получаемых ионно-плазменным напылением
В. П. Афанасьев, А. Н. Ермилов, И. А. Костановский, П. М. Тюрюканов, А. В. Лубенченко, Д. А. Иванов, В. Э. Нефедова
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2014, No: 3 , published: 01 March 2014
Quasi-one-dimensional graphene superlattices formed on high-index surfaces
Chenfang Lin, Xiangqian Huang, Fen Ke, Chenhao Jin, Nai Tong, Xiuli Yin, Lin Gan, Xuefeng Guo, Ruguang Zhao, Weisheng Yang, Enge Wang, and Zonghai Hu
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 89, No: 8 , published: 19 February 2014
Кремний-германиевые наноструктуры с высоким содержанием германия
Ю. Г. Садофьев, В. П. Мартовицкий, М. А. Базалевский
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 78, No: 1 , published: 01 January 2014
Electrodeposition of Ga–O Thin Films from Aqueous Gallium Sulfate Solutions
Junie Jhon M. Vequizo, Masaya Ichimura
Jpn. J. Appl. Phys., Vol: 52, No: 7R , published: 01 July 2013
Электронная спектроскопия наноструктур, созданных в поверхностных слоях Si, GaAs и CaF2 методом низкоэнергетической ионной имплантации
Умирзаков Б.Е., Ташмухамедова Д.А., Мурадкабилов Д.М., Болтаев Х.Х.
Ж. техн. физ., Vol: 83, No: 6 , published: 01 June 2013
Structural, chemical, and electronic properties of the Co2MnSi(001)/MgO interface
Roman Fetzer, Jan-Peter Wüstenberg, Tomoyuki Taira, Tetsuya Uemura, Masafumi Yamamoto, Martin Aeschlimann, and Mirko Cinchetti
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 87, No: 18 , published: 17 May 2013
Variational approach for calculating Auger electron spectra: Going beyond the impurity approximation
Anamitra Mukherjee, George A. Sawatzky, and Mona Berciu
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 87, No: 16 , published: 29 April 2013
Self-organized chromium oxide monolayers on Fe(001)
A. Picone, G. Fratesi, M. Riva, G. Bussetti, A. Calloni, A. Brambilla, M. I. Trioni, L. Duò, F. Ciccacci, and M. Finazzi
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 87, No: 8 , published: 04 February 2013
Self-organized chromium oxide monolayers on Fe(001)
A. Picone, G. Fratesi, M. Riva, G. Bussetti, A. Calloni, A. Brambilla, M. I. Trioni, L. Duò, F. Ciccacci, and M. Finazzi
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 87, No: 8 , published: 04 February 2013
Синтез и исследование наноостровков палладия на поверхности кремния
А. С. Яновский, С. В. Томилин
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2013, No: 2 , published: 01 February 2013
Оже- и РФЭС-исследования нанокомпозита por-Si/SnOx, сформированного с использованием мощного ионного пучка наносекундной длительности
В. В. Болотов, Е. В. Князев, В. С. Ковивчак, А. А. Корепанов, П. М. Корусенко, С. Н. Несов, С. Н. Поворознюк
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2013, No: 1 , published: 01 January 2013
Исследование причины отслоения сегнетоэлектрических пленок РZt от подложки методом электронной оже-спектроскопии
В. Г. Бешенков, А. Г. Знаменский, В. А. Марченко
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2012, No: 11 , published: 01 November 2012
Формирование островковых пленок алюминия при электронном облучении поверхности сапфира
Е. Ю. Зыкова, А. А. Хайдаров, И. П. Иваненко, И. К. Гайнуллин
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2012, No: 11 , published: 01 November 2012
Термостимулированные поверхностные сегрегационные процессы в ионных кристаллах: хлорид натрия
Ю. Я. Томашпольский, Н. В. Садовская, Н. В. Козлова, Г. А. Григорьева
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2012, No: 11 , published: 01 November 2012
Электронная оже-спектроскопия и спектроскопия анизотропного отражения монослойных нитридных пленок на поверхностях (001) кристаллов GaAs и GaSb
Берковиц В.Л., Гордеева А.Б., Львова Т.В., Улин В.П.
Физ. и техн. полупроводников , Vol: 46, No: 11 , published: 01 November 2012
Проявление Оже-процессов в C1s-сателлитных спектрах одностенных углеродных нанотрубок
Бржезинская М.М., Песин Л.А., Морилова В.М., Байтингер Е.М.
Физ. тверд. тела, Vol: 54, No: 9 , published: 01 September 2012
Formation and stability of a two-dimensional nickel silicide on Ni(111): An Auger, LEED, STM, and high-resolution photoemission study
B. Lalmi, C. Girardeaux, A. Portavoce, C. Ottaviani, B. Aufray, and J. Bernardini
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 85, No: 24 , published: 13 June 2012
Ионно-индуцированное модифицирование контактных поверхностей
К. А. Арушанов, И. А. Зельцер, С. М. Карабанов, Р. М. Майзельс, К. И. Маслаков, Е. Н. Моос, А. В. Наумкин
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 76, No: 6 , published: 01 June 2012
Модификация электронных свойств при адсорбции сопряженных органических молекул на поверхности поликристаллического SnO2
Комолов А.С., Комолов С.А., Лазнева Э.Ф., Гавриков А.А., Репин П.С.
Ж. техн. физ., Vol: 82, No: 2 , published: 17 February 2012
Исследование поверхностных слоев пористого кремния с внедренными металлами Fe, Co и Ni методами оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Э. П. Домашевская, А. С. Леньшин, В. М. Кашкаров, И. Н. Шабанова, Н. С. Теребова
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2012, No: 2 , published: 01 February 2012
Formation of copper oxide surface structures via pulse injection of air onto Cu(111) surfaces
C. Pérez León, C. Sürgers, and H. v. Löhneysen
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 85, No: 3 , published: 20 January 2012
Predominance of multielectron processes contributing to the intrinsic spectra of low-energy Auger transitions in copper and gold
S. F. Mukherjee, K. Shastry, and A. H. Weiss
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 84, No: 15 , published: 12 October 2011
Electric transport across Sr1−xLaxCuO2/Au/Nb planar tunnel junctions and x-ray photoelectron and Auger-electron spectroscopy on Sr1−xLaxCuO2 thin films
J. Tomaschko, C. Raisch, V. Leca, T. Chassé, R. Kleiner, and D. Koelle
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 84, No: 6 , published: 24 August 2011
Структурно-фазовые превращения на начальных стадиях конденсации меди на Si(001)
Н. И. Плюснин, В. М. Ильященко, С. А. Китань, Н. А. Тарима
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2011, No: 8 , published: 22 August 2011
Диффузионные процессы в наноразмерных двухслойных пленочных системах на основе Fe и Cu или Fe и Cr
С. И. Проценко, О. В. Сынашенко, Е. Забила, М. Маршалек
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2011, No: 8 , published: 22 August 2011
Исследование методами ЭОС, СХПЭЭ и ДМЭ особенностей роста сульфида меди при поверхностной сегрегации на грани Cu(111)
И. Н. Сергеев, А. А. Шебзухов
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 75, No: 5 , published: 10 June 2011
Structural analysis of the Cu(100)-p(2×2)-Sn surface using low and medium energy ion scattering spectroscopies
M. Walker, M. G. Brown, M. Draxler, M. G. Dowsett, C. F. McConville, T. C. Q. Noakes, and P. Bailey
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 83, No: 8 , published: 25 February 2011
Surface-site-selective study of valence electronic states of a clean Si(111)-7×7 surface using Si L23VV Auger electron and Si 2p photoelectron coincidence measurements
Takuhiro Kakiuchi, Masashi Tahara, Shogo Hashimoto, Narihiko Fujita, Masatoshi Tanaka, Kazuhiko Mase, and Shin-ichi Nagaoka
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 83, No: 3 , published: 24 January 2011
Исследование элементного и фазового состава тонких пленок PZT по оже-спектрам при ионном профилировании
Бешенков В.Г./Знаменский А.Г./Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2010, No: 9 , published: 27 December 2010
Десорбция атомных частиц и модификация поверхности фторидов при электронном облучении
Еловиков С.С./Зыкова Е.Ю./Хайдаров А.А./Юрасова В.Е.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2010, No: 6 , published: 22 September 2010
Al-K-Auger energy spectra: probing the electron dynamics in ion-solid interactions
Schiwietz G./Roth M./Hellhammer R./et al.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 74, No: 2 , published: 31 August 2010
4d-1 photoelectron spectra and subsequent N4,5OO Auger electron spectra of atomic Sb
M. Patanen, S. Heinäsmäki, S. Urpelainen, S. Aksela, and H. Aksela
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 81, No: 5 , published: 20 May 2010
Исследование эмиссии оже-электронов с поверхности кремния при бомбардировке пучком ионов и электронов
Алиев А.А./Абдуваитов А.А./Рузабаева М.К.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2009, No: 5 , published: 24 December 2009
Temperature modification of oxdized multiwall carbon nanotubes studied by electron spectroscopy methods
Lesiak Beata/Zemek Josef/Jiricek Petr/Stobinski Leszek
Phys. Status Solidi B, Vol: 246, No: 11-12 , published: 28 April 2009
Spin-polarized Auger electrons in core-valence-valence decays of 3d impurities in metals
M. I. Trioni, A. Zanetti, G. Fratesi, and G. P. Brivio
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 79, No: 16 , published: 23 April 2009
Structural changes and peculiarities of NiPdSi formation investigated by Raman ana Auger spectroscopy
Karabko Aliaksandra/Dostanko Anatoly/Kong JinFang/Shen Wenzhong
Phys. Status Solidi A, Vol: 206, No: 8 , published: 30 March 2009
Correlation between microstructure and magnetotransport in organic semiconductor spin-valve structures
Yaohua Liu, Shannon M. Watson, Taegweon Lee, Justin M. Gorham, Howard E. Katz, Julie A. Borchers, Howard D. Fairbrother, and Daniel H. Reich
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 79, No: 7 , published: 12 February 2009
M3M45M45 Auger lineshape measured from the Cu(111) surface: Multiplet term selectivity in angle-resolved Auger-photoelectron coincidence spectroscopy
R. Gotter, F. Da Pieve, F. Offi, A. Ruocco, A. Verdini, H. Yao, R. Bartynski, and G. Stefani
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 79, No: 7 , published: 10 February 2009
In situ auger electron spectroscopy study of the pentacene film grown on the SrTiO3(001) surface
Hotozuka Kozue/Katayama Masao/Matsumoto Yuji
Jpn. J. Appl. Phys., Vol: 48, No: 2R , published: 01 February 2009
Ab initio calculation of core-valence-valence Auger spectra in closed shell systems
G. Fratesi, M. I. Trioni, G. P. Brivio, S. Ugenti, E. Perfetto, and M. Cini
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 78, No: 20 , published: 18 November 2008
Количественный элементный и фазовый анализ по оже-спектрам: матричные факторы
Бешенков В.Г./Пархоменко Ю.Н./Подгорный Д.А./и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2008, No: 11 , published: 23 October 2008
Анализ тонких слоев магнитных полупроводников на основе Ge:Mn методами рентгеновской фотоэлектронной и оже-спектроскопии
Демидов Е.С./Зубков С.Ю./Лесников В.П./и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2008, No: 7 , published: 14 October 2008
Термостимулированная поверхностная автосегрегация химического состава в ниобате натрия: ожэ-спектроскопия и вторично-электронная эмиссиометрия
Томашпольская Ю.Я.\Садовская Н.В.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 71, No: 10 , published: 19 May 2008
Механизм образования нанокристаллов карбида кремния при высокотемпературной карбонизации пористого кремния
Нагорнов Ю.С.\Костишко Б.М.\Миков С.Н.\и др.
Ж. техн. физ., Vol: 77, No: 8 , published: 15 May 2008
Трансформация графитовых островков на поверхности рекристаллизованной платиновой фольги под действием механического нагружения
Князев С.А.\Корсуков В.Е.\Корсукова М.М.\и др.
Ж. техн. физ., Vol: 77, No: 8 , published: 15 May 2008
Use of focused ion beam sample preparation for Auger analysis
Scheithauer U.
Phys. Status Solidi C, Vol: 4, No: 6 , published: 03 March 2008
Эффект концентрации компонентов в распылении сплавов Ni_-Pd
Черныш В.С./Патракеев А.С./Еловиков С.С./Шульга В.И.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2008, No: 2 , published: 16 February 2008
Криосинтез однодоменных частиц магнетита
Горбик П.П./Дубровин И.В./Демченко Ю.А./Филоненко М.Н.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2008, No: 2 , published: 16 February 2008
First principles T-matrix calculations for Auger spectra of hydrocarbon systems
Yoshifumi Noguchi, Soh Ishii, Kaoru Ohno, Igor Solovyev, and Taizo Sasaki
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 77, No: 3 , published: 28 January 2008
Диагностика фазового состава поверхности, тонких пленок и границ раздела по оже-спектрам
Бешенков В.Г./Вяткин А.Ф./Знаменский А.Г./Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2008, No: 1 , published: 15 January 2008
Спин-поляризационная электронная оже-спектроскопия пленок ванадия на поверхности FeNi[3] (110)
Петров В.Н.\Камочкин А.С.\Уздин В.М.
Письма в ЖТФ, Vol: 30, No: 7 , published: 23 December 2007
Методы обработки оже-сигналов при количественной диагностике состава наноструктур
Бешенков В.Г.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2007, No: 12 , published: 21 December 2007
Electronic correlations in graphite and carbon nanotubes from Auger spectroscopy
E. Perfetto, M. Cini, S. Ugenti, P. Castrucci, M. Scarselli, M. De Crescenzi, F. Rosei, and M. A. El Khakani
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 76, No: 23 , published: 17 December 2007
Surface Patterning Using Blister Exfoliation Induced by Electron Irradiation
Shinichi Igarashi, Akiko N. Itakura, and Masahiro Kitajima<
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 46, No: 12 , published: 06 December 2007
Hydrolysis at MgO(100)/Ag(100) oxide-metal interfaces studied by O  1s x-ray photoelectron and Mg KL23L23 Auger spectroscopy
S. Altieri, S. F. Contri, and S. Valeri
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 76, No: 20 , published: 12 November 2007
Experimental studies of secondary electron emission of TiO[2] and Ti (brief communication)
Iyasu Takeshi\Inoue Masahiko\Yoshikawa Hideki\Shimizu Ryuichi
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 45, No: 10A , published: 18 September 2007
Rate-limiting reactions of grwoth and decomposition kinetics of very thin oxides on Si(001) surfaces studied by reflection high-energy electron diffraction combined with auger electron spectroscopy
Ogawa Shuichi\Takakuwa Yuji
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 45, No: 9A , published: 14 September 2007
Positron annihilation induced Auger electron spectroscopy of Cu and Si
J. Mayer, K. Schreckenbach, C. Hugenschmidt
Phys. Status Solidi C, Vol: 4, No: 10 , published: 01 September 2007
Study of cuprous oxide using time of flight positron annihilation induced Auger electron spectroscopy
M. P. Nadesalingam, S. Mukherjee, S. Somasundaram, C. R. Chenthamarakshan, Norma R. De Tacconi, B. Davis, K. Rajeshwar, A. H. Weiss
Phys. Status Solidi C, Vol: 4, No: 10 , published: 01 September 2007
Digital positron lifetime spectroscopy: present status and outlook
F. Beccaronrcaron
Phys. Status Solidi C, Vol: 4, No: 10 , published: 01 September 2007
Carbon-Induced Superstructure on Cr(001) Thin-Film Surfaces
Hirofumi Oka, Akira Nakai, and Kazuhisa Sueoka
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 46, No: 8B , published: 23 August 2007
Electron spectroscopy of CO[x] magnetron sputtered films
Zemek J.\Bohac P.\Kulikovsky V.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 45, No: 10B , published: 22 August 2007
The conductivity of Mg-doped InN
Gimalla V.\Niebelsch~:utz M.\Ecke G.\et al.
Phys. Status Solidi C, Vol: 3, No: 6 , published: 16 August 2007
Investigation of magnetic surfaces by multiply charged ions
Robin A.\Unipan M.\Morgenstern R.\Hoekstra R.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 70, No: 6 , published: 25 July 2007
Оже-электронная эмиссия из ферромагнитных сплавов
Еловиков С.С.\Зыкова Е.Ю.\Гвоздовер Р.С.\и др.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 70, No: 6 , published: 25 July 2007
Оже-спектроскопия и свойства наноразмерных тонкопленочных структур Ir(Pt)/PZT(PZT/PT)/Ir
Афанасьев В.П.\Афанасьев П.В.\Грехов И.В.\и др.
Физ. тверд. тела, Vol: 48, No: 6 , published: 06 July 2007
Адсорбция, десорбция, контактная и термическая трансформация молекул C[60] на поверхности Ta (100)
Галль Н.Р.\Рутьков Е.В.\Тонтегоде А.Я.
Физ. и техн. полупроводников , Vol: 39, No: 11 , published: 03 July 2007
Изучение взаимодействия ионов аргона и азота с поверхностью диоксида кремния
Бачурин В.И./Кривелевич С.А./Потапов Е.В./Чурилов А.Б.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2007, No: 3 , published: 23 March 2007
Characterisation of Al-3,49wt%-Li alloy oxidised surface using Auger electron spectroscopy
Tkach M.V./Seti Ju.O./Voitsekhivska O.M./et al.
Rom. J. Phys., Vol: 52, No: 3-4 , published: 13 March 2007
Аппаратно-программный комплекс для управления оже-электронным спектрометром
Хабибулин И.М.\Зорькин А.Э.\Зубрилов В.Г.\Валюхов Д.П.
Приборы и техн. эксперим., Vol: 2007, No: 5 , published: 01 January 2007
Excitation dynamics in La0.875Sr0.125MnO3 measured by resonant Auger electron and resonant x-ray emission spectroscopies
T. O. Mente, F. Bondino, E. Magnano, M. Zangrando, K. Kuepper, V. R. Galakhov, Y. M. Mukovskii, M. Neumann, and F. Parmigiani
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 74, No: 20 , published: 06 November 2006
Resonant Auger spectroscopy of metastable molecular oxygen
Hossein Farrokhpour, Michele Alagia, Marcello Coreno, Monica de Simone, Kevin C. Prince, Robert Richter, Stefano Stranges, and Mahmoud Tabrizchi
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 73, No: 3 , published: 20 March 2006
Получение кальцийфосфатных биосовместимых покрытий методом магнетронного распыления и их свойства
Пичугин В.Ф.\Никитенков Н.Н.\Шулепов И.А.\и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2006, No: 7 , published: 01 January 2006
Неразрушающий анализ стехиометрии оксидов кремния по форме LVV оже-пика кремния
Костишко Б.М.\Саломатин С.Я.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2005, No: 1 , published: 01 January 2005
Высокориентированные пленки sp{1}-углерода
Бабаев В.Г.\Гусева М.Б.\Савченко Н.Ф.\и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2004, No: 3 , published: 01 January 2004
Природа включений в пленках YSZ на кремнии по результатам оже-профилирования и исследования края кратера ионного травления
Бешенков В.Г.\Знаменский А.Г.\Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2004, No: 3 , published: 01 January 2004
Исследование состава неконтролируемых примесей, их химических состояний и профиля распределения на границах раздела полупроводник_-диэлектрик, полупроводник_-металл методами ОЭС и ВИМС
Алиев А.А.\Хазратов Ф.Х.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 2003, No: 9 , published: 01 January 2003
Study of co-adsorption and atomic transport phenomena in the aged thin Pd layers
Litovhenko V.G., Efremov A.A., Gorbanyuk T.I. et al.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1999, No: 5-6 , published: 01 January 1999
Investigation of the interaction of gadolinium with the (001) surface of highly oriented pyrolytic graphite at the initial stages of the deposition
Bozhko S.I., Chaika A.N., Ionov A.M., Valbusa U.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1999, No: 7-8 , published: 01 January 1999
Effect of laser pulse ablation on the composition of YBa[2]Cu[3]O[7-x] surface layers
Nishchenko M., Bakuntseva M., Sidorenko S. et al.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1999, No: 7-8 , published: 01 January 1999
The LMV emission of titanium nitride
Rubtsov V.I., Shulga Yu.M.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1999, No: 3-4 , published: 01 January 1999
Состав и строение частиц сверхпроводящих ультрадисперсных порошков в системе NbF[5]-TiCl[4]-C[5]H[12]-N[2]-H[2]
Рубцов В.И., Шульга Ю.М., Троицкий В.Н., Куркин Е.Н.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1999, No: 11 , published: 01 January 1999
Модификация поверхности MoSi[2] при бомбардировке ионами низких энергий
Сошников И.П., Степанова М.Г., Шахмин А.Л. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1999, No: 5-6 , published: 01 January 1999
Бистабильность поверхности Ag(111) при осаждении AgCl в сверхвысоком вакууме
Андрюшечкин Б.В., Ельцов К.Н., Мартынов В.В.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1999, No: 8 , published: 01 January 1999
Анализ поверхности деформированных образцов бронзы, подвергнутых ионному облучению
Чекин В.Е., Боброва М.К., Шелякин Л.Б.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1999, No: 9 , published: 01 January 1999
Послойный анализ плазмополимеризованных органических пленок на проводящих подложках методом оже-электронной спектроскопии
Буйдо Е.А., Байдаровцев Ю.П., Понщмарев А.Н.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1999, No: 9 , published: 01 January 1999
Auger spectrometers: a tutorial review
Narumand D.H., Childs K.D.
Appl. Spectrosc. Rev., Vol: 34, No: 3 , 1999
Experimental studies of metal/InP interfaces formed at room temperature and 77K
He L., Shi Z.Q., Anderson W.A.
J. Electron. Mater., Vol: 23, No: 12 , 1999
The interactions between Si/Co films and GaAs(001) substrates
Kwak J.S., Baik H.K., Shin D.W., et al.
J. Electron. Mater., Vol: 23, No: 12 , 1999
Reduction of copper oxide thin films with hydrogen plasma generated by a dielectric-barrier glow discharge
Sawada Yasushi, Taguchi Noriyuki, Tachibana Kunihide
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 11 , 1999
Preparation of self-assembled mercaptoalkanoic acid multilayers on GaAs (110) surfaces
Ohno Hirotaka, Nagahara Larry Akio, Mizutani Wataru et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 1A , 1999
Preparation and characterization of lead zirconate titanate heterolayered thin films on Pt/Ti/SiO[2]/Si substrate by sol-gel method (Short Note)
Lee Sung-Gap, Shim Kwang-Taek, Lee Young-Hie
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 1A , 1999
Influence of sputtering parameters on the formation process of high-quality and low-resistivity HfN thin film
Shinkai Satoko, Sasaki Katsutaka
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 4A , 1999
Effectiveness of Al[12]W layer on suppression of spontaneous reaction in Al/Al[12]W/W[2]N/Si contact systems (short note)
Takeyama Mayumi B., Noya Atsushi
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 4A , 1999
Nitridation of GaAs (001) surface studied by auger electron spectroscopy
Aksenov Igor, Nakada Yoshinobu, Okumura Hajime
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 4B , 1999
Pt-Ti thin film adhesion on SiN[x]/Si substrates
Kang Unbyoung, Lee Taegon, Kim Young-Ho
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 7A , 1999
Properties of Ru and RuO[2] thin films prepared by metalorganic chemical vapor deposition
Choi Y.Ch., Lee B.S.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 8 , 1999
Properties of Ru and RuO[2] thin films prepared by metalorganic chemical vapor deposition
Choi Y.Ch., Lee B.S.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 8 , 1999
Low-temperature growth of InN films on (111)GaAs substrates
Guo Qixin, Nishio Mitsuhiro, Ogawa Hiroshi, Yoshida Akira
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 38, No: 5A , 1999
Valence-hole localization in core-valence doubly ionized states of ionic molecules and its impact on KLV Auger spectroscopy
Schulte H. D., Cederbaum L. S., Tarantelli F.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 60, No: 3 , 1999
Polymerization and decomposition of C[60] on Pt(111) surfaces
Swami Nathan, He Hong, Koel Bruce E.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 59, No: 12 , 1999
Photoemission study of the Na/ZnSe(100) interface
Chen Zhonghui, Eich D., Reuscher G., Waag A., Fink R., Umbach E.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 12 , 1999
X-ray photoelectron diffraction and Auger electron diffraction from TiO[2](100)
Hardman P. J., Wincott P. L., Thornton G., Kaduwela A. P., Fadley C. S.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 16 , 1999
L[2,3]M[2,3]X Auger transitions of Ag, In, Sn, and Sb: Experiment and theory
Siervo A. de, Landers R., Kleiman G. G., Castro S. G. C. de, Morais J.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 23 , 1999
Structural and magnetic properties of epitaxial Cu/Fe/Cu/Si(111) ultrathin films
Gubbiotti G., Albini L., Tacchi S., Carlotti G., Gunnella R., Crescenzi M. De
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 24 , 1999
Spectral density of elastically backscattered electrons from Pd(110) covered with segregated sulfur
Grzeszczak A., Kaszczyszyn S., Klein S.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 3 , 1999
Metastable and equilibrium structures on Pt[3]Sn(001) studied by STM, RHEED, LEED, and AES
Hoheisel M., Kuntze J., Speller S., Postnikov A., Heiland W., Spolveri I., Bardi U.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 3 , 1999
Atomic-resolution study of steps and ridges on arsine-exposed vicinal Ge(100)
McMahon W. E., Olson J. M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 4 , 1999
(2 × 4) GaP(001) surface: Atomic structure and optical anisotropy
Frisch A. M., Schmidt W. G., Bernholc J., Pristovsek M., Esser N., Richter W.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 4 , 1999
Reactive deposition epitaxy of CoSi[2] nanostructures on Si(001): Nucleation and growth and evolution of dots during anneal
Goldfarb I., Briggs G. A. D.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 7 , 1999
Electronic structure of H/GaN(0001): An EELS study of Ga-H formation
Bellitto V. J., Thoms B. D., Koleske D. D., Wickenden A. E., Henry R. L.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 7 , 1999
Efficient electron-stimulated desorption of hydrogen from GaN(0001)
Bellitto V. J., Thoms B. D., Koleske D. D., Wickenden A. E., Henry R. L.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 7 , 1999
Combined potential and spin impurity scattering in cuprates
HaranNagi A. D. S.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 8 , 1999
Tetragonal distortion of Mn films on Cu[3]Au(100)
Schirmer B., Feldmann B., Sokoll A., Gauthier Y., Wuttig M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 60, No: 8 , 1999
Effect of chloride anions on Cu electrodeposition onto Pt(110) and Pd(110) surfaces
Zei M.S.
Z. phys. Chem., Vol: 208, No: 1-2 , 1999
Электронная структура металлических сплавов с повышенным квантовым выходом фотоэмиссии
Ткаченко В.Г., Кондрашев А.И., Лазоренко В.И. и др.
Докл. РАН, Vol: 367, No: 5 , 1999
Взаимодействие молекул C[60] с поверхностью (100)Mo
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я., Усуфов М.М.
Ж. техн. физ., Vol: 69, No: 11 , 1999
Адсорбция серы на негретом (1010) Re
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Письма в ЖТФ, Vol: 25, No: 14 , 1999
Effects of Fe-Co, Co-Ni, and Ni-Fe coadsorption on the Si(111) surface structure
Dolbak A.E., Olshanetsky B.Z., Teys S.A., Zhachuk R.A.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1998, No: 7-8 , published: 01 January 1998
Some trends in rare earth/GaAs(110) systems: reactive interface and schottky barrier formation, overlayer structures
Chaika A.N., Grazhulis V.A., Ionov A.M.
Phys. Low-Dim.struct., Vol: 1998, No: 11-12 , published: 01 January 1998
Диагностика фазового состава Y[1]Ba[2]Cu[3]O[7-x] тонконесущих элементов на подложках Cu-Al-бронзы по оже-спектрам при ионном профилировании
Бешенков В.Г., Ермолов С.Н., Карпов М.И., Коржов В.П.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 1 , published: 01 January 1998
Совершенные пленки фианита (ZrO[2]+Y[2]O[3]) на кремнии (100)
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 1 , published: 01 January 1998
Диагностика фазового состава Y[1]Ba[2]Cu[3]O[7-x] тонконесущих элементов на подложках Cu-Al-бронзы по оже-спектрам при ионном профилировании
Бешенков В.Г., Ермолов С.Н., Карпов М.И., Коржов В.П.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 1 , published: 01 January 1998
Совершенные пленки фианита (ZrO[2]+Y[2]O[3]) на кремнии (100)
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 1 , published: 01 January 1998
Модификация структуры и состав многослойных покрытий на основе TiC и TiN малыми дозами γ-квантов
Коршунов А.Б., Бублик В.Т., Гаськов А.М., Голубцов И.В., Горюнова И.И., Кузнецова Т.А., Пархоменко Ю.Н., Сагалова Т.В., Шемаев Б.В., Шорин А.М.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 11 , published: 01 January 1998
Исследование процессов перемешивания атомов пленки и подложки с ионами аргона
Лифанова Л.Ф.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 1998, No: 7 , published: 01 January 1998
Kinetics of evaporation of Cu beaded films on sapphire
Beszeda I., Ealet B., Gontier-Moya E., Beke D.L., Erdelyi G.
Appl. Phys. A , Vol: 66, No: 1 , 1998
Laser desorption of C-contaminated Pd clusters grown on MgO(100)
Bourguignon B., Carrez S., Buchner M. et al.
Chem. Phys. Lett., Vol: 287, No: 1-2 , 1998
State-selected ion desorption from condensed H[2]O at 80 K studied by Auger electron-photoion coincidence spectroscopy
Nagasono Mitsuru, Mase Kazuhiko, Tanaka Shin-ichiro, Urisu Tsuneo
Chem. Phys. Lett., Vol: 298, No: 1-3 , 1998
Reconstructions upon thermal desorption in ultra high vacuum of InSe covered Si(III) surfaces
Proix F., Panella V., El Monkad S. et al.
Eur. Phys. J. B , Vol: 5, No: 4 , 1998
High resolution study of correlation satellites in the M[4,5]-N[1]N[2,3] resonant Auger spectra of Kr
Mursu J., Jauhiainen J., Aksela H., Aksela S.
J. Phys. B: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 31, No: 9 , 1998
Mechanism of improved thermal stability of cobalt silicide formed on polysilicon gate bynitrogen implantation
Sun Wein-Town, Lee Hai-Ming, Liaw Ming-Chi, Hsu Charles Ching-Hsiang
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 11 , 1998
Application of Al[3]Hf/Hf bilayered film as a diffusion barrier to Al metallization system of Si large-scale integration
Shinkai Satoko, Sasaki Katsutaka, Abe Yoshio
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 11 , 1998
Using auger electron spectroscopy for chemical analysis of plasma Damage induced by reactive ion etching of SiO[2]
Matsui Miyako, Uchida Fumihiko, Katsuyama Kiyomi et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 11 , 1998
Surface of Bi[2]Sr[2]CaCu[2]O[y] single crystals heated in air
Tanaka A., Kishida S., Yamauchi Y., Tokutaka H.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 4A , 1998
Interfacial reaction between aluminum metal and boron-doped polysilicon in a planar type antifuse device
Baek J.T., Park H.-H., Ahn B.T. et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 5A , 1998
Structure analysis of SrTiO (111) polar surfaces
Sekiguchi Shoichi, Fujimoto Masayuki, Kang Min-Gu et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 7 , 1998
Low temperature deposition of TaCN films using pentakis(diethylamido)tantalum
Jun G.-Ch., Cho S.-L., Kim K.-B. et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 1A-18 , 1998
Liquid-phase deposition of silicon-dioxide films using tetra-ethyl orthosilicate
Usami K., Hayashi Sh., Uchida Y. et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 1A-18 , 1998
Direct oxidation of Si[1-x]Ge[x] layers using vacuum-ultra-violet light radiation in oxygen
Chen L.-P., Chan Y.-Ch., Chang Sh.-J. et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 2A , 1998
Behaviors of Auger intensities emitted from a Si(111)√3×√3-Al surface during incident beam rocking of reflection high-energy electron diffraction
Horio Y.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 2A , 1998
Preparation of organic silica films with low dielectric constant from the liquid phase
Usami K., Sumimura K., Matsumura M.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 4A , 1998
Superstrate-type Cu(In,Ga)Se[2] thin film solar cells with ZnO buffer layers
Nakada T., Kume T., Mise T., Kunioka A.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 5A , 1998
Ultrahigh resolution in sputter depth profiling with Auger electron spectroscopy using ionized SF[6] molecules as primary ions
Hofmann S., Rar A.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 6B , 1998
Selective area growth of Si on thin insalating layers for nanostructure fabrication
Hwang D.-S.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 37, No: 9A-9B , 1998
Theoretical analysis of resonant Auger electron spectra produced by isolated resonances
Colle R., Simonucci S.
Nuovo cim. D, Vol: 20, No: 1 , 1998
Compatibility of cobalt and chromium depletion gates with RPECVD upper gate oxide for silicon-based nanostructures
Rack M.J., Gunther A.D., Khoury M. et al.
Semicond. Sci. Technol., Vol: 13, No: 8A , 1998
S-induced faceting transformations in Fe(111)
Lin J.-S., Cabibil H., Kelber J.A.
Surf. Sci., Vol: 395, No: 1 , 1998
Photoelectron and Auger electron diffraction studies of a sulfur-terminated GaAs(001)-(2×6) surface
Shimoda M., Tsukamoto S., Koguchi N.
Surf. Sci., Vol: 395, No: 1 , 1998
Образование и свойства поверхностного карбида вольфрама
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 62, No: 10 , 1998
Индентификация фаз в тонких пленках многокомпонентных оксидов по оже-спектрам при ионном профилировании
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 62, No: 3 , 1998
Electron dynamics at surfaces induced by highly charged ions
Morgenstern R.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 62, No: 4 , 1998
Особенности взаимодействия европия с поверхностью Si(111)
Григорьев А.Ю., Шикин А.М., Прудникова Г.В., Горовиков С.А., Адамчук В.К.
Физ. тверд. тела, Vol: 40, No: 3 , 1998
Composition studies on CdO thin films formed by spray pyrolysis and sputtering
Gurumurugan K., Mangalaraj D., Narayandass Sa.K., Nakanishi Y., Hatanaka Y.
Appl. Surf. Sci., Vol: 113-1, No: 2 , 1997
Valence-electron spectral change and charge transfer mechanism of CaSi[2] during CaSi[2]-H[2]O reaction
Abe S., Nakayama H., Nishino T., Iida S.
Appl. Surf. Sci., Vol: 113-1, No: 2 , 1997
Investigation of the transition region between SiO[2] layers wet grown at 700οC and Si
Anwand W., Brauer G., Coleman P.G., Goodyear A., Rether H., Maser K.
J. Phys.: Condens. Matter. , Vol: 9, No: 14 , 1997
Focusing-defocusing of keV electrons along [001] and [101] Fe atomic chains
Valeri S., di Bona A., Borgatti F.
Surf. Sci., Vol: 371, No: 1 , 1997
Study of ion desorption induced by a resonant core-level excitation of condensed H[2]O using Auger electron photo-ion coincidence (AEPICO) spectroscopy combined with synchrotron radiation
Mase K., Nagasono M., Tanaka Sh., Urisu T., Ikenaga E., Sekitani T., Tanaka K.
Surf. Sci., Vol: 390, No: 1-3 , 1997
Auger-electron-ion coincidence study of photon-stimulated ion desorption for condensed acetonitrile
Sekitani T., Ikenaga E., Tanaka K., Mase K., Nagasono M., Tanaka Sh., Urisu T.
Surf. Sci., Vol: 390, No: 1-3 , 1997
Desorption of H ions from water chemisorbed on Si(100) by O 1s excitation-an Auger electron-photoion coincidence spectroscopy study
Tanaka S., Mase K., Nagasono M., Kamada M.
Surf. Sci., Vol: 390, No: 1-3 , 1997
Metallic friction: The influence of atomic adsorbates at submonolayer coverages
McFadden C.F., Gellman A.J.
Surf. Sci., Vol: 391, No: 1-3 , 1997
Влияние состояния объема образца на образование и термостабильность поверхностного силицида на (100) W
Галль Н.Р., Рутьков У.В., Тонтегоде А.Я., Усуфов М.М.
Ж. техн. физ., Vol: 67, No: 7 , 1997
Production of intense atomic nitrogen beam used for doping and synthesis of nitride film
Xu N., Du Y.-C., Ying Z.-F., Li F.-M.
Appl. Phys. Lett. , Vol: 69, No: 10 , 1996
Low temperature inorganic chemical vapor deposition of heteroepitaxial GaN
McMurran J., Todd M., Kouvetakis J., Smith D.J.
Appl. Phys. Lett. , Vol: 69, No: 2 , 1996
Effects of GaAs-surface roughness on the electron-beam pattering characteristics of a surface-oxide layer
Ishikawa T., Tanaka N., Lopez M., Matsuyama I.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 35, No: 5B , 1996
A scanning Auger electron spectrometer for internal surface analysis of Large Electron Positron 2 superconducting radio-frequency cavities
Benvenuti C., Cosso R., Genest J., Hauer M., Lacarrere D., Rijllart A., Saban R.
Rev. Sci. Instrum. , Vol: 67, No: 8 , 1996
Хемосорбция серы на (100) Mo: рост поверхностного и объемного сульфидов, абсолютная калибровка, термодесорбция серы
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я., Усуфов М.М.
Ж. техн. физ., Vol: 66, No: 5 , 1996
Диагностика фазового состава тонкопленочных структур микроэлектроники по оже-спектрам
Бешенков В.Г.
Завод. лаб, Vol: 62, No: 2 , 1996
Количественный оже-анализ приповерхностных структур
Плюснин Н.И.
Письма в ЖТФ, Vol: 22, No: 19 , 1996
Auger electron spectroscopy study of the interaction of NO[2] with Si(100)
Bhat M., Kamath A., Kwong D.L., et al.
Appl. Phys. Lett. , Vol: 65, No: 10 , 1995
Formation of Ti silicides by metal-vapor vacuum arc ion source implantation
Zhu D.H., Liu B.X.
J. Appl. Phys. , Vol: 77, No: 12 , 1995
Formation of metal-rich silicides in the initial stage of interfacial reactions in Nb/Si systems
Nakanishi T., Takeyama M., Noya A., Sasaki K.
J. Appl. Phys. , Vol: 77, No: 2 , 1995
Properties of metal-organic chemical-vapor-deposition mercury telluride contacts on p-type cadmium telluride
Asa G., Nemirovsky Y.
J. Appl. Phys. , Vol: 77, No: 9 , 1995
Maskless deposition of Au on GaAs by low-energy focused ion beam
Kito K., Yanagisawa J., Monden K., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 34, No: 12B , 1995
Nickel oxide electrochromic thin films prepared by reactive DC magnetron sputtering
Yoshimura K., Miki T., Tanemura S.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 34, No: 5A , 1995
The influence of Ar{+} and Xe{+} ion beam incidence angle on the depth resolution in AES
Liday J., Kliment V., Vogrincic P., Tomek S.
Vacuum, Vol: 46, No: 1 , 1995
Temperature dependence of the electron energy gap of high T[C] superconductors studied by work function spectroscopy
Westermeyer S., Muller R., Scholtes J., et al.
Appl. Phys. Lett. , Vol: 64, No: 13 , 1994
Reactive ion etching of gallium arsenide in CCl[2]F[2] and SiCl[4] plasmas: Influence of chamber material and etching mask
Etrillard J.J.-P.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 33, No: 7A , 1994
Character of F core exciton in alkali fluorides studied by resonant Auger spectroscopy
Akseda H., Kukk E., Kikas A., Nommiste E., Ausmmes A., Elango M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 49, No: 5 , 1994
О коррекции микронеровностей при оже-спектроскопии шероховатых поверхностей
Ильин А.М.
Ж. техн. физ., Vol: 64, No: 10 , 1994
Quantitative AES analysis of amorphous silicon carbide layers
Gale I.G.
Philips J. Res, Vol: 47, No: 3-5 , 1993
Взаимодействие атомов углерода с платиной
Рутьков Е.В.
Ж. техн. физ., Vol: 63, No: 3 , 1993
Carbon diffusion in uncoated and titanium nitride coated iron substrates during microwave plasma assisted chemical vapor deposition of diamond
Weiser Paul S., Prawer Steven, Hoffman Alon, Manory Rafael R., Paterson Peter J.K., Stuart Sue-Anne
J. Appl. Phys. , Vol: 1992, No: , published: 01 January 1992
Experimental and theoretical surface component of the PL[2,3]VV Auger lineshape in GaP(110): The use of ordered (1×) Sb overlayers
Duo L., Sancrotti M., Cosso R., Weightman P., Manghi F.
Appl. Surf. Sci., Vol: 56-58, No: Pt A , 1992
Chemical effects of annealing ZnS-capped anodic films on Hg[1-x]Cd[x]Te (x≈0.2)
Weiss E., Statlender Y., Helms C.R.
Appl. Surf. Sci., Vol: 56-58, No: Pt A , 1992
Accurate in-situ Auger analysis of MBE-grown Ge[x]Si[1-x]
Wei X., Zhou T., Yang X., Yu M., Zhang X., Sheng Ch., Wang X.
J. Infrared and Millimeter Waves = Hongwai Yu Haomibo Xuebao, Vol: 11, No: 2 , 1992
The process window of a-Si/Ti bilayer metallization for an oxidation-resistant and self-aligned TiSi[2] process
Lou Yung-Song, Cheng Huang-Chung, Wu Ching-Yuan
IEEE Trans. Electron Devices , Vol: 39, No: 8 , 1992
A molecular beam study of alkali promotion of NO sticking on Si(100): Local promotion in a single collision regime
Namiki A., Suzuki S., Kato H., Babasaki Y., Tanaka M., Nakamura T., Suzaki T.
J. Chem. Phys., Vol: 97, No: 5 , 1992
Auger emission of valence band and local electronic structure of niobium carbonitride
Rubtsov V.I., Shul`ga Yu.M.
J. Electron. Spectrosc. Relat. Phenom. , Vol: 58, No: 3 , 1992
Молекулярно-пучковая эпитаксия (МПЭ) GaAs и (Al, Ga)As на разориентированных подложках GaAs (100)
Бер Б.Я., Евтихиев В.П., Комиссаров А.Б., Косогов А.О., Зушинский Д.А.
Письма в ЖТФ, Vol: 18, No: 11 , 1992
Study of the oxygen depletion in the film-substrate interface of superconducting YBa[2]Cu[3]O[7-x] films
Colino J., Sacedon J.L., Vicent J.L.
Appl. Phys. Lett. , Vol: 59, No: 25 , 1991
Initial- and final-state excitations in KL[23]L[23] Auger spectra of Cu and Ni metals, induced near threshold
Kover L., Berenyi Z., Cserny I., Lugosi L., Drube W., Mukoyama T., Medicherla V. R. R.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 73, No: 19
Nitrogen-induced structures of a Nb(100) surface investigated by LEED, Auger electron spectroscopy, and STM
An Bai, Xu Maojie, Fukuyama Seiji, Yokogawa Kiyoshi
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 73, No: 20
Surface band bending at nominally undoped and Mg-doped InN by Auger electron spectroscopy
Cimalla V., Niebelschutz M., Ecke G., et al.
Phys. Status Solidi A, Vol: 203, No: 1
Real-time scanning electron microscopy and Auger spectroscopy of wetting in Sn-3.3Ag04.8Bi solder paste wetted to Ni-Au
Bozack M.J., Johnson R.W.
J. Electron. Mater., Vol: 34, No: 3
An improved method for H[1-x]Cd[x]Te surface chemistry characterization
Olshove R., Garwood G., Mowat I., et al.
J. Electron. Mater., Vol: 34, No: 6
A novel process to control the surface roughness and resistivity of electroplated Cu using thiourea (Brief communication)
Kang Moo Seong, Kim Soo-Kil, Kim Jae Jeong
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 44, No: 11
Formation of palladium silicide films on silicon(111)7 × 7 surface at ~150 K
Okado Hideaki, Hirono Shinsuke, Mori Hirotaro
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 44, No: 3
Electrical properties of a thin anodized capacitor made of Y-doped Al alloy film
Onozuka Tomotake, Sasaki Hayato, Mikuni Naohiro, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 44, No: 9A
Directional Auger electron spectroscopy and single-scattering cluster calculations study of the Ni(111)-Pb system
Krupski A.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 72, No: 12
Диагностика фазового состава скpытых слоев силицидов железа в кpемнии по оже-спектpам пpи ионном пpофилиpовании
Бешенков В.Г., Паpхоменко Ю.Н., Подгоpный Д.А., Полякова Е.Г.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 69, No: 4
Опpеделение содеpжания Si в слое YSZ на Si(100) по оже-спектpам пpи ионном пpофилиpовании
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Маpченко В.А.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 69, No: 4
Surface characterization of 3C-SiC exposed to XeF[2]
Watanabe Morimichi, Mori Yukimasa, Sakai Hiroaki, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 43, No: 3A
High resolution elemental and magnetic distribution mapping and chemical bonding states of Co:TiO[2] films: A SAM, MFM and XPS study
Cho Ch.-R., Kim J.-P., Hwang J.-Y., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 43, No: 10B
Determination of Ag domain populations on Cu(111) using directional Auger and directional elastic peak electron spectroscopies
Nowicki Marek
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 69, No: 24
Determination of diffusion coefficients in Au/Ni thin films by Auger electron spectroscopy
Abdul-Lettif Ahmed M.
Phys. Status Solidi A, Vol: 201, No: 9
Совместная адсоpбция атомов алюминия и элементов IV гpуппы (Si, C) на W(100)
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Письма в ЖТФ, Vol: 30, No: 19
Исследование межфазной гpаницы алмаз-матpица методами электpонной спектpоскопии
Валюхов Д.П., Зленко В.Я., Зоpькин А.Э., и дp.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: 00, No: 11
Изменение pаспыления инваpа пpи магнитном фазовом пеpеходе
Еловиков С.С., Конов Д.А., Гвоздовеp Р.С., и дp.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 5
Состояние гpаниц pаздела в гетеpоэпитаксиальной системе Si/YSZ/Si(100) по pезультатам оже-пpофилиpования и детального исследования кpая кpатеpа ионного тpавления
Бешенков В.Г., Вяткин А.Ф., Знаменский А.Г., и дp.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 7
Особенности тонкой стpуктуpы оже-спектpов монокpисталлов кpемния пpи ионном облучении
Филимонов А.В., Коpолева Е.Ю.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 8
Surface and interface smoothing of epitaxial CoSi[2] films by solid-phase epitaxy using adsorbed oxygen layers and two-step growth on Si(001) surfaces
Hayashi Yukihiro, Sakai Akira, Ikeda Hiroya, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 11
Auger electron spectroscopy study on the tolerance to forming gas anneal of (Ba,Sr)TiO[3] with SiO[2] capped (Ba, Sr)RuO[3] electrod
Kim Y.-B., Choi D.-K.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 5A
Micro field emitter with nano-pillarets formed by reactive ion etching of photoresist
Baba A., Yoshida T., Asano T.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 6B
Morphology and thickness of ultra-thin epitaxial Al[2]O[3] film on Cu9%Al(111)
Yamauchi Yasuhiro, Yoshitake Michiko, Slong Weijie
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 7B
Development of scanning probe microscope for Auger analysis
Miyatake Yutaka, Nagamura Toshihiko, Hattori Ken, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 7B
Phases of Ag-Adsorbed Si surfaces studied by low energy electron diffraction and Auger electron spectroscopy
Cho Eun-Sang, Hur Hoon, Kim Nam-Hong, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 42, No: 9A
Surface structures of clean and oxidized Nb(100) by LEED, AES, and STM
An B., Fukuyama S., Yokogawa K., Yoshimura M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 68, No: 11
Element-specific magnetization of a Gd-Co composite system using spin-polarized Auger electron spectroscopy
Anilturk O. S., Koymen A. R.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 68, No: 2
Positron-annihilation-induced Auger electron spectroscopy studies of the (100) and (111) surfaces of silicon
Fazleev N. G., Kim J., Fry J. L., Weiss A. H.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 68, No: 24
Диагностика фазового состава системы CeO[2]/Si(111) по оже-спектры при ионном профилировании
Бешенков В.Г., Знаменский А.Г., Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 3
Interface formation and electrical properties of TiO[x]N[y]/HfO[2]/Si structure
Ahn Y.S., Ban S.H., Kim K.J., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 12
Electro-mechanical properties of metal-insulator-metal device fabricated on polymer substrate using low-temperature process
Park Sung Kyu, Han Jeong In, Kim Won Keun, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 2A
Compositional variations of TiAlN films deposited by metalorganic atomic layer deposition method
Kim Ju Youn, Kim Hyo Kyeom, Kim Yangdo, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 2A
Effect of thermal annealing on the Pd/Au contact to p-type Al[0.15]Ga[0.85]N (short note)
Jun Byung-Hyuk, Hirayama Hideki, Aoyagi Yoshinobu
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 2A
Development of electron source for auger electron spectroscopy in scanning probe microscope systems
Miyatake Y., Nagamura T., Hattori K., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 7B
Structural study of the SiC(0001)(√3×√3)-R30° surfaces by reflection high-energy electron diffractopn rocking curves
Aoyama Tomohiro, Hisada Yochiyuki, Mukainakano Shinichi et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 2B
Homoepitaxial growth of SrTiO[3] in an ultrahigh vacuum with automatic feeding of oxygen from the substrate at temperatures as low as 370°C
Shimoyama Kazuo, Kiyohara Masahiro, Uedono Akira, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 41, No: 3A
STM study of the C-induced Si(100)-c(4×4) reconstruction
Jemander S. T., Zhang H. M., Uhrberg R. I. G., Hansson G. V.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 65, No: 11
Molecular effects in solid NaNO[3] observed by x-ray absorption and resonant Auger spectroscopy
Preobrajenski A. B., Vinogradov A. S., Molodtsov S. L., Krasnikov S. K., Chasse T., Szargan R., Laubschat C.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 65, No: 20
Importance of O vacancies in the behavior of oxide surfaces: Adsorption of sulfur on TiO[2](110)
Rodriguez Jose A., Hrbek Jan, Chang Zhipeng, Dvorak Joseph, Jirsak Tomas, Maiti Amitesh
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 65, No: 23
Pd M[45]VV Auger spectrum determined by Auger-photoelectron coincidence spectroscopy: Intrinsic line shape and Coster-Kronig transitions
Butterfield M. T., Bartynski R. A., Hulbert S. L.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 11
Adsorption of oxygen on Pt[3]Sn(111) studied by scanning tunneling microscopy and x-ray photoelectron diffraction
Hoheisel M., Speller S., Heiland W., Atrei A., Bardi U., Rovida G.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 16
Unoccupied surface states of the c(2×2)-reconstructed 3C-SiC(001) surface
Ostendorf R., Benesch C., Hagedorn M., Merz H., Zacharias H.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 24
Ground state of graphite ribbons with zigzag edges
Lee Yu-Li, Lee Yu-Wen
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 24
Residual thermal desorption study of the room-temperature-formed Sb/Si(111) interface
Paliwal Vinod Kumar, Vedeshwar A. G., Shivaprasad S. M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 24
Charge ordering on the surface of Fe[3]O[4](001)
Mariotto G., Murphy S., Shvets I. V.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 24
Ab initio calculation of KLV Auger spectra in Si
Chang Eric K., Shirley Eric L.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 3
Properties of ultrathin Pb layers on the Ni(111) face
Krupski A., Mroz S.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 3
Evolution of geometric and electronic structure in ultrathin In films on Cu(001)
Nakagawa T., Mitsushima S., Okuyama H., Nishijima M., Aruga T.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 66, No: 8
Сегрегация оксида вольфрама на поверхности Re/W(110)
Ермолов С.Н., Кортенраад Р., Дениер ван дер Гон А.В. и др.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 66, No: 1
Взаимодействие многозарядных ионов с углеродными поверхностями: зависимость от структуры поверхности?
Моргенштерн Р., Винтерс Д., Шлатхолтер Т., Хоекстра Р.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 66, No: 4
Soft X-ray spectroscopic study of fullerene based transition-metal compounds and related systems
Qian Limin
Acta univ. upsal. Compr. Summ. Uppsala Diss. Fac. Sci. and Technol., Vol: , No: 654
Platinum hillocks in Pt/Ti film stacks deposited on thermally oxidized Si substrate
Kweon S.Y., Choi S.K., Yeom S.J., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 40, No: 10
Electrical characteristics of TiO[2]/ZrSi[x]O[y] stack gate dielectric for metal-oxide-semiconductor device applications
Sim Hyunjun, Jeon Sanghun, Hwang Hyunsang
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 40, No: 12
Scanning probe microscopy and lithography of utrathin Si[3]N[4] films grown on Si(111) and Si(001)
Gwo Shangjr, Wu Chung-Lin, Chien Forest Shih-Sen et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 40, No: 6B
Evaluation of organic monolayers formed on Si(111): Exploring the possibilities for application in electron beam nanoscale patterning
Yamada T., Takano N., Yamada K., et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 40, No: 8
Atomically flat MgO single-crystal surface prepared by oxygen thermal annealing
Zama H., Ishii Y., Yamamoto H., Morishita T.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 40, No: 5A
Electrodeposition of Sb onto the low-index planes of Cu in aqueous chloride solutions:studies by LEED, AES and electrochemistry
Ward L.C., Stickney J.L.
Phys. Chem. Chem. Phys., Vol: 3, No: 16
Angle-resolved two-dimensional mapping of electron emission from the inner-shell 2p excitations in Cl[2]
Nayandin O., Kukk E., Wills A. A., Langer B., Bozek J. D., Canton-Rogan S., Wiedenhoeft M., Cubaynes D., Berrah N.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 63, No: 6
Auger width and branching ratios for Be-like 1s2s{2}2p {3}P{o} and 1s2s2p{2} {3}S,{3}P,{3}D resonances and photoion
Lin Shi-Hsin, Hsue Chen-Shiung, Chung Kwong T.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 64, No: 1
Auger branching ratios for berylliumlike 1s2s2p{21}S,{1}P,{1}D resonances and photoionization of beryllium from 1s{2}2s2p{1}P{o}
Shiu W.C., Hsue Chen-Shiung, Chung Kwong T.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 64, No: 2
Formation of cobalt disilicide films on (sqrt(3)×sqrt(3))6H-SiC(0001)
Platow W., Wood D. K., Tracy K. M., Burnette J. E., Nemanich R. J., Sayers D. E.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 11
Reconstruction of the CoGa(100) surface studied by thermal-energy helium-atom scattering, LEED, and AES
Pan F. M., Pflitsch Ch., David R., Verheij L. K., Franchy R.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 12
Line shape of the Ag M[4,5]VV Auger spectra measured by Auger-photoelectron coincidence spectroscopy
Arena D.A., Bartynski R.A., Nayak R.A., et al.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 15
Effect of oxygen surfactant on the magnetic and structural properties of Co films grown on Cu(110)
Ling W. L., Qiu Z. Q., Takeuchi O., Ogletree D. F., Salmeron M.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 2
Heteroepitaxial growth of LiCl on Cu(001)
Kiguchi M., Saiki K., Sasaki T., et al.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 20
Structure of Pt[3]Sn(110) studied by scanning tunneling microscopy
Hoheisel M., Speller S., Kuntze J., et al.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 24
Initial growth mode of ultrathin Ag films on an Al(111) surface
Kim S. H., Seo Jikeun, Shin Y., Kim W., Park C. Y., Oh S.-J., Seo J. M., Min H. G., Kim J.-S.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 63, No: 8
k-resolved inverse photoemission of four different 6H-SiC (0001) surfaces
Benesch C., Fartmann M., Merz H.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 64, No: 20
Core excitons in Na K photoabsorption of NaF: Resonant Auger spectroscopy
Kikas A., Nommiste E., Ruus R., Saar A., Martinson I.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 64, No: 23
Structure of monolayer tin oxide films on Pt(111) formed using NO[2] as an efficient oxidant
Batzill Matthias, Beck David E., Koel Bruce E.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 64, No: 24
Characteristic features of Auger spectra from adatoms on metals
Bonini N., Trioni M. I., Brivio G. P.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 64, No: 3
Intra-atomic versus interatomic processes in resonant Auger spectra at the Ti L[23] edges in rutile
Danger Jerome, Magnan Helene, Chandesris Dominique, Fevre Patrick Le, Bourgeois Sylvie, Jupille Jacques, Verdini Alberto, Gotter Roberto, Morgante Alberto
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 64, No: 4
XPS and AES investigation of GaN films grown by MBE
Yan Jin-she, Chen Guang-de, Qi Ming, et al.
Acta phys. sin., Vol: 50, No: 12
Auger electron spectroscopy characterization of YBCO thin films sputter deposited on vicinal and non-vicinal SrTiO[3] substrates
Martev I.N., Tsaneva V.N., Donchev T., et al.
Докл. Бълг. АН., Vol: 54, No: 2
Исследование результатов многоимпульсного лазерного воздействия на массивный титан методами электронной спектроскопии
Голод А.В., Либенсон М.Н., Мурашов С.В. и др.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 65, No: 4
Электронная спектроскопия и электрография переходных слоев, образующихся при эпитакции Fu, Ag, Cu на KCl(100)
Власов В.П., Каневский В.М.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 65, No: 9
Новый метод определения резкости гетеропереходов InGaAs/GaAs при послойном Оже-анализе
Дроздов М.Н., Данильцев В.М., Дроздов Ю.Н. и др.
Письма в ЖТФ, Vol: 27, No: 20
Стимулированная электронным облучением модификация фотодеградационных свойств и состава поверхности пористого кремния
Костишко Б.М., Тувлинский В.Б., Нагорнов Ю.С. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 11
Низкотемпературная диссоциация молекул оксида азота на поверхности системы Ni/MgO
Магкоев Т.Т.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 12
Получение проводящих пленок на поверхности кремния при пиролизе карбонильных и кресмнийорганических соединений
Миттов О.Н., Пономарева Н.И., Миттова И.Я.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 12
Структура пленок ZrO[2]-GeO[2] на поверхности (100) кремния
Акимов А.Т., Казанский Л.П., Контур Ж.П. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 4
Алгоритм построения концентрационных профилей по глубине по данным оже-электронной спектроскопии
Блащук А.Г.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 7
Изменение вторично-эмиссионных свойств поверхности монокристаллов Si при ионной имплантации и последующем отжиге
Рысбаев А.С.
Радиотехн. и электрон. (Россия), Vol: 46, No: 7
Диффузия Cu по чистой поверхности Si(111)
Долбак А.Е., Жачук Р.А., Ольшанецкий Б.З.
Физ. и техн. полупроводников , Vol: 35, No: 9
Магнитооптические эффекты и оже-спектроскопия двухслойных пленок NiFe-Dy, Fe-Dy с неоднородными слоями
Эдельман И.С., Марков В.В., Кеслер В.Г. и др.
Физ. мет. и металловед., Vol: 91, No: 3
Electron spectroscopy of solid surfaces
Zemek J.
Acta phys. slov., Vol: 50, No: 5
X-ray photoelectron and Auger electron spectroscopy
Turner N.H.
Appl. Spectrosc. Rev., Vol: 35, No: 3
Annealing behavior of microstructure in a-SiO[x]: H/a-SiO[y]: H multilayer films
Guo Zhen-ning, Huang Yong-zhen, Guo Heng-qun et al.
Bandaoti xuebao = Chin. J. Semicond., Vol: 21, No: 6
Theorektical and experimental study of resonant 3d X-ry photoemission and resonant L[3]M[45]M[45] auger transition of PdO
Ouzumi T., Okane T., Yoshii K., et al.
J. Phys. Soc. Jpn., Vol: 69, No: 4
Single-oriented growth of (111) Cu film on thin ZrN/Zr bilayered film for ULSI metallization
Yanagisawa Hideto, Sasaki Katsutaka, Miyake Hidekazu, Abe Yoshio
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 10
Sequential single-oriented growth of (111) Cu/(111)HfN/(002)Hf trilayered film on (001) Si and its thermal stability
Shinkai Satoko, Yoshimoto Ken-ichi, Kitada Yasuhiro, Sasaki Katsutaka
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 10
Thermal stability and oxidation resistance of W, TiW, W(N) and TiW(N) thin films deposited on Si
Chang Chich Shang, Wu Tai Bor, Huang Chun Kai et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 11
Characterization of SC-O/W(100) surface as Schottky emitter: work functionchange for activation processing
Kawano Takashi, Takai Yoshizo, Shimizu Ryuichi
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 2A
Interfacial solid-phase reaction in Al/HfN/Hf/Si contact system during postmetallizationannealing
Shinkai Satoko, Sasaki Katsutaka
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 3A
Study of accumualtion effect of bombarding N[2]{+} ions on Al surface by auger electron spectroscopy
Mitsuhashi Riichirou, Mizuhara Yuzuru, Beag Young Whoan, Shimizu Ryuichi
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 3A
Molecular beam epitaxial growth of CdTe layers on InSb(111)A and B polar substrates
Huerta-Ruelas J., Lopez-Lopez M., Zelaya-Angel O.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 4A
Adsorption of fluorine on bare, hydrogen- and hydrocarbon-covered diamond C(111) surfaces
Yamada T., Seki H., Chuang T.J.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 4A
Application of HfN/Hf bilayered film as a diffusion barrier for Cu metallization system of Si large-scale itnegration
Yoshimoto K., Shinkai S., Sasaki K.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 4A
Fabrication and characterization of the conic diamond field emission arrays with gated structure
Chen C.-F., Wang H.-C., Hsieh H.-C.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 4A
Compositional changes of SiC/Si structure during vacuum annealing
Sun Y., Sonoda N., Miyasato T.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 6A
Effect of In(4×1) reconstruction induced interface modification on the growth behavior of InSb on Si(111) substrate
Rao B.V., Gruznev Dimitri, Tambo Toyokazu, Tatsuyama Chiei
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 7A
Reduction and removal of thin Al oxide film from Cu substrate by focused electron beam
Rar Andrei, Yoshitake Michiko
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 7B
Blue photoluminescence from ZnCdO films grown by molecular beam epitaxy
Sakurai Keiichiro, Kubo Takeshi, Kajita Daisuke et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 11B
Enhancement of barrier properties in chemical vapor deposited TiN employing multi-stacked Ti/TiN structure
Chang Ting-Chang, Liu Po-Tsun, Yang Ya-Liang, et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 39, No: 2A
Sputtering of hollow atoms from carbon surfaces
Schlathlter T., Nrmann A., Robin A., Winters D. F. A., Marini S., Morgenstern R., Hoekstra R.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 62, No: 4
Sputtering of hollow atoms from carbon surfaces
Schlathlter T., Nrmann A., Robin A., Winters D. F. A., Marini S., Morgenstern R., Hoekstra R.
Phys. Rev. A: At. Mol. Opt. Phys., Vol: 62, No: 4
Multiatom resonant photoemission observed via secondary processes: Auger decay and X-ray fluorescence
Arenholz E., Kay A. W., Fadley C. S., Grush M. M., Callcott T. A., Ederer D. L., Heske C., Hussain Z.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 11
Yb adsorption on the (211) faces of molybdenum and tantalum
Ubogyi I., Stepanovskyi S., Kolaczkiewicz J.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 16
Theory of spin-resolved Auger-electron spectroscopy of ferromagnetic 3[d]-transition metals
Wegner T., Potthoff M., Nolting W.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 2
Electronic structure and chemical reactivity of oxide-metal interfaces: MgO(100)/Ag(100)
Altieri S., Tjeng L. H., Sawatzky G. A.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 24
Core-valence coupling in the Ru 4p photoexcitation/Auger decay process: Auger-photoelectron coincidence spectroscopy study
Gotter R., Siu W.-K., Bartynski R. A., Hulbert S. L., Wu Xilin, Zitnik M., Nozoye H.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 7
Radiationless Raman versus Auger behavior at the Cu L[3] resonance of CuO and Cu[2]O
Finazzi M., Ghiringhelli G., Tjernberg O., Ohresser Ph., Brookes N. B.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 61, No: 7
Investigation of epitaxial arrangement and electronic structure of a La@C[82] film grown on an MoS[2] surface
Iizumi K., Uchino Y., Ueno K., Koma A., Saiki K., Inada Y., Nagai K., Iwasa Y., Mitani T.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 12
Relativistic theoretical description for spin-resolved CVV Auger electron spectroscopy with application to Pd and Fe
Minar J., Popescu V., Ebert H.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 15
Bilayer growth in the initial stages of Mg epitaxy on Mo(001)
Droppo D. F., Storey C. D., Gallagher M. C.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 3
Adsorbate-induced reconstruction and overlayer structures of sulfur on Ir(110): An STM study
Kuntze J., Speller S., Heiland W.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 7
Surfactant action in heteroepitaxy: Growth of Co on (4×4)Pb/Cu(111) studied by LEED and STM
Prieto J. E., Rath Ch., Muller S., Hammer L., Heinz K., Miranda R.
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 8
Photoelectron spectroscopy studies of growth, alloying, and segregation for transition-metal films on tungsten (211)
Kolodziej J. J., Madey T. E., Keister J. W., Rowe J. E
Phys. Rev. B: Condens. Matter, Vol: 62, No: 8
Effect of high-temperature treatment on the crystallization of CN[x] thin films
Xiao Xing-cheng, Jiang Wei-hui, Tian Jing-fen et al.
Acta phys. sin., Vol: 49, No: 1
Изменение фазового состава и электрофизических свойств контакта титан-кремний при облучении азотводородной плазмой
Чапланов А.М., Щербакова Е.Н.
Ж. техн. физ., Vol: 70, No: 10
Исследования высокочистых монокристаллов вольфрама методами рассеяния медленных ионов, оже-спектроскопии, дифракции медленных электронов и рентгеновской дифракции
Кортенраад Р., Ермолов С.Н., Вениер ван дер Гон А.В. и др.
Изв. РАН. Сер. физ., Vol: 64, No: 4
Образование и свойства поверхностного фосфида на (100)W
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Письма в ЖТФ, Vol: 26, No: 12
Совместная адсорбция кремния и кислорода на нагретом (100) W
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 10
Некоторые особенности выхода мягких оже-электронов под действием рентгеновского излучения
Пашаев Э.М., Перегудов В.Н., Вавилов А.Б.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 12
Разрушение нитрида галлия ионами и электронами низких энергий
Еловиков С.С., Гвоздовер Р.С., Зыкова Е.Ю. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 12
Сравнительное сопоставление ОЭС и СХПЭ как методов анализа фазового состава тонкопленочных оксидных систем при ионном профилировании
Бешенков В.Г., Волков В.Т., Знаменский А.Г., Марченко В.А.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 2
Лазерный отжиг кислородных вакансий в YBa[2]Cu[3]O[7-x]
Нищенко М.М., Лихторович С.П., Бакунцева М.В. и др.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 3
Особенности транспортных процессов в системе кремний-алюминий с подслоем титана
Орлов А.М., Скворцов А.А., Костишко Б.М.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 4
Эпитаксиально-стабилизированные двумерные фазы и гетероэпитаксия Si на CrSi[2](001)/Si(111)
Плюснин Н.И., Галкин Н.Г., Лифшиц В.Г., Миленин А.П.
Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед., Vol: , No: 6
Улектронно-емiсiйна спектроскопiя поверхонь поруватого еремнiю
Галiй П.В.
Укр. фiз. ж., Vol: 45, No: 8
Совместная адсорбция атомов кремния и халькогенов (S, O) на нагретом (1010)Re
Галль Н.Р., Рутьков Е.В., Тонтегоде А.Я.
Физ. тверд. тела, Vol: 42, No: 2
Адсорбционная стадия формирования тонкопленочных структуры Eu-Si (111)
Крачино Т.В., Кузьмин М.В., Логинов М.В., Митцев М.А.
Физ. тверд. тела, Vol: 42, No: 3
Взаимодействие тонких слоев кремния с поверхностью (0001) редкоземельных металлов
Шикин А.М., Григорьев А.Ю., Прудникова Г.В. и др.
Физ. тверд. тела, Vol: 42, No: 5
Zinc oxide films prepared with undulator beam
Yoshida Akira, Wakahara Akihiro
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 1, No: Suppl
An electron-ion coincidence spectroscopy study of ion desorptioninduced by core-electron transitions of surfaces
Mase Kazuhiko, Tanaka Shin-ichiro
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 1, No: Suppl
Scanning tunneling microscopy for the study of the synchrotron-radiation stimulated processes: synchrotron-radiation stimulated desorption of SiO[2] films on Si(111) surface
Miyamae Takayuki, Urisu Tsuneo, Uchida Hironaga, Munro Ian H.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 1, No: Suppl
Electronic and structural analysis of 6H-SiC(001)3×3 reconstructed surface
Sasaki Hiroshi, Jikimoto Tamotsu, Kinoshita Akimasa et al.
Jpn. J. Appl. Phys., Part 1, Vol: 1, No: Suppl
Grain boundary embrittlement in iron alloys, an AES and AP-FIM study
Tanino M., Liu C.M.
Ann. phys. (Fr.), Vol: 4, No: Suppl
Auger electron spectroscopy of laser deposition a-C, a-C:H, microcrystalline diamond
Kovarik P., Bourdon E.B.D., Prince R.H.
J. Vac. Sci. Technol., A, Vol: 4, No: Pt 1
The oxidation of GaAs(100) studied by Auger electron spectroscopy and principal component analysis
Passegi M.C.G. (Jr), Vaquila I.Ferron J.
J. Phys.: Condens. Matter. , Vol: 33A, No: Suppl
Oxide stoichiometry in the early stages of titanium oxidation at low pressure
Vaquila I., Passeggi M., Ferron J.
J. Phys.: Condens. Matter. , Vol: 33A, No: Suppl
A study of thermally induced segregation of magnesium in aluminium-magnesium alloys by means of AES
Sajed S.O., Sollivan J.L.
J. Phys.: Condens. Matter. , Vol: 33A, No: Suppl